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對(duì)于復(fù)雜地質(zhì)樣品，電子多晶X射線衍射儀（XRD）是一種非常有效的分離和鑒定工具。以下是使用XRD對(duì)復(fù)雜地質(zhì)樣品進(jìn)行有效分離和鑒定的一般步驟：一、樣品準(zhǔn)備1、粉碎與研磨首先將復(fù)雜地質(zhì)樣品粉碎成細(xì)顆粒，通常需要使用研缽和研杵，或者球磨機(jī)等設(shè)備。粉碎后的顆粒尺寸應(yīng)符合XRD分析的要求，一般在微米級(jí)別，這樣能保證樣品具有足夠的表面積，使X射線能夠充分照射到晶體的各個(gè)面，獲得準(zhǔn)確的衍射信息。2、篩分與提純（可選）根據(jù)樣品的性質(zhì)和研究目的，可能需要進(jìn)行篩分以分離出特定粒徑范圍的顆粒。如果...

BiasMDP技術(shù)搭配MDPmap設(shè)備，開(kāi)啟表面鈍化檢測(cè)新方式在能源產(chǎn)業(yè)蓬勃發(fā)展的當(dāng)下，追求更高效率的太陽(yáng)能電池成為行業(yè)核心目標(biāo)。而這其中，表面鈍化技術(shù)的優(yōu)劣起著決定性作用。要深入理解和優(yōu)化表面鈍化，精準(zhǔn)測(cè)量固定電荷和界面缺陷密度這兩個(gè)關(guān)鍵參數(shù)至關(guān)重要。為大家介紹一項(xiàng)行業(yè)變革的創(chuàng)新技術(shù)——基于微波探測(cè)光電導(dǎo)衰減法（MDP）的BiasMDP技術(shù)，這一技術(shù)在實(shí)驗(yàn)測(cè)量環(huán)節(jié)，F(xiàn)reibergInstruments公司的MDPmap型號(hào)設(shè)備發(fā)揮了重要作用。在BiasMDP技術(shù)出現(xiàn)之前，...

MDP技術(shù)-硅錠質(zhì)量評(píng)估的“透視眼”在光伏生產(chǎn)鏈中，硅錠材料質(zhì)量評(píng)估對(duì)晶體生長(zhǎng)者優(yōu)化結(jié)晶過(guò)程、電池、芯片制造商篩選材料以降本增效極為重要。傳統(tǒng)依賴最終效率的反饋方式存在諸多不足，MDP技術(shù)則為早期質(zhì)量評(píng)估提供了新途徑。FreibergInstruments相關(guān)技術(shù)或設(shè)備助力實(shí)現(xiàn)用MDP技術(shù)在硅磚四個(gè)側(cè)面以1mm分辨率測(cè)量空間壽命和電阻率圖像。這種測(cè)量具有非接觸、可在線操作且無(wú)需校準(zhǔn)的優(yōu)勢(shì)。MDP技術(shù)能夠?qū)уV的空間分辨載流子壽命和電阻率進(jìn)行測(cè)量，其測(cè)量過(guò)程為非接觸式，可在生產(chǎn)...

由來(lái)自國(guó)家食品藥品監(jiān)督管理局相關(guān)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室、中國(guó)藥科大學(xué)、中國(guó)科學(xué)院上海藥物研究所等機(jī)構(gòu)的眾多科研人員組成的團(tuán)隊(duì)，結(jié)合體外溶出實(shí)驗(yàn)與三維X射線斷層掃描結(jié)構(gòu)表征的研究方法，開(kāi)展了甲磺酸多沙唑嗪緩釋片相關(guān)研究。文章中，研究人員運(yùn)用Bruker納米級(jí)三維X射線顯微鏡（NanoCT）SkyScan2214剖析了藥物結(jié)構(gòu)與釋放動(dòng)力學(xué)關(guān)系，為口服控釋仿制藥研發(fā)和質(zhì)量控制提供了重要依據(jù)。該文章于2024年9月21日成功發(fā)表于AsianJournalofPharmaceuticalScien...

lexsyg釋光探測(cè)器||在地質(zhì)測(cè)年領(lǐng)域應(yīng)用分享突破測(cè)年極限！紫光激發(fā)發(fā)光技術(shù)新進(jìn)展，lexsyg系統(tǒng)助力古老沉積物測(cè)年研究這篇由牛津大學(xué)與伍倫貢大學(xué)聯(lián)合團(tuán)隊(duì)發(fā)表的研究，為石英測(cè)年技術(shù)帶來(lái)了重要突破。團(tuán)隊(duì)使用德國(guó)FreibergInstruments的lexsygresearchsystem高精度發(fā)光測(cè)量系統(tǒng)，對(duì)紫色受激發(fā)光（VSL）測(cè)年法展開(kāi)系統(tǒng)性驗(yàn)證，揭示了該技術(shù)在突破傳統(tǒng)測(cè)年上限中的潛力與挑戰(zhàn)。創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)研究選取歐洲4處考古遺址樣本（年代跨度40-900ka），通過(guò)對(duì)...

在半導(dǎo)體材料的研究與應(yīng)用中，缺陷表征至關(guān)重要。特別是在中子嬗變摻雜（NTD）硅的處理過(guò)程中，了解其輻射誘導(dǎo)缺陷對(duì)于優(yōu)化退火條件、提升材料性能意義非凡。FreibergInstruments公司的微波探測(cè)光致電流瞬態(tài)光譜法（MDPICTS）技術(shù)（如圖1），為這一領(lǐng)域帶來(lái)了新的突破，展現(xiàn)出諸多傳統(tǒng)技術(shù)難以企及的優(yōu)點(diǎn)。NTD硅，因能實(shí)現(xiàn)極低的電阻率變化，在大面積輻射探測(cè)器制造中占據(jù)重要地位。然而，摻雜后的硅晶體因輻射產(chǎn)生大量缺陷，實(shí)際電阻率遠(yuǎn)超預(yù)期，退火成為必要環(huán)節(jié)。在此過(guò)程中，準(zhǔn)...

對(duì)分布函數(shù)（PairDistributionFunction,PDF）分析是一種描述材料中原子之間距離分布的方法，它可以給出原子間距離分布或者相距r的原子對(duì)的“概率”。對(duì)于長(zhǎng)程有序的結(jié)晶材料，根據(jù)布拉格衍射幾何，可以很容易得到材料對(duì)應(yīng)的晶體結(jié)構(gòu)信息，而對(duì)于短程有序或者無(wú)序的材料，比如非晶、液體等，布拉格衍射給出的信息非常有限（往往是很寬的漫散峰，甚至沒(méi)有峰），這時(shí)借助PDF分析可以得到更多的細(xì)節(jié)信息。傳統(tǒng)上，PDF測(cè)試只能在大型落地式衍射儀上進(jìn)行，臺(tái)式衍射儀通常用于簡(jiǎn)單的測(cè)試...

電子順磁共振波譜儀的養(yǎng)護(hù)細(xì)節(jié)涉及環(huán)境條件、電源管理、定期檢查與維護(hù)、樣品處理與存放以及軟件維護(hù)等多個(gè)方面。只有做好這些養(yǎng)護(hù)工作，才能確保儀器的正常運(yùn)行和延長(zhǎng)使用壽命。以下是電子順磁共振波譜儀的養(yǎng)護(hù)細(xì)節(jié)：1.環(huán)境條件-溫度與濕度：儀器應(yīng)放置在溫度、濕度相對(duì)穩(wěn)定的環(huán)境中，一般溫度保持在15℃-30℃，相對(duì)濕度在20%-80%為宜。避免將儀器放置在潮濕、高溫或陽(yáng)光直射的地方，以免影響儀器的性能和壽命。例如，在潮濕的環(huán)境中，儀器內(nèi)部的電子元件可能會(huì)受潮生銹，導(dǎo)致電路故障；而高溫環(huán)境可...